关键词搜索: ROHS检测仪,卤素测试仪,x射线荧光光谱仪,重金属检测仪,镀层膜厚分析仪,手持合金分析仪,手持矿石分析仪,手持土壤分析仪,ROHS2.0分析仪,rohs十项检测仪,邻苯检测仪,色谱仪,光谱仪

你的位置:首页 > 技术文章 > X荧光光谱仪的优缺点

技术文章

X荧光光谱仪的优缺点

技术文章
   优点:
 
a)分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
 
b)X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。
 
c)非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。
 
d)X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
 
e) 分析精密度高。
 
f) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
 
缺点:
 
a)难于作分析,故定量分析需要标样。
 
b)对轻元素的灵敏度要低一些。
 
c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
 
X荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。
在线咨询
电话咨询
13418616619
关注微信
返回顶部
Baidu
map