关于XRF检测仪的分析说明-深圳德谱仪器有限公司

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关于XRF检测仪的分析说明

更新时间：2024-04-02

　　X射线荧光光谱(XRF)具有干扰小、分析速度快、并且可以同时进行多元素分析等优点，是固体物质成分分析的常规检测手段，也是一种重要的表面/表层分析方法。XRF分析仪具有快速、无损等特点，因此被广泛应用于材料检测与分析领域。

　　X射线荧光光谱仪是一种元素分析工具，几十年来一直是检测实验室的主要分析仪器之一。这种多样化的无损检测方法只需要很少的样品制备工作，并且对操作人员的经验要求并不是太高，而且，该检测技术还可以快速提供准确的检测结果。

　　X射线荧光(XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。

　　原理：

　　当物质受到入射X射线的辐射时，其中的原子会吸收入射X射线的能量，然后再以荧光的形式重新辐射出来。

　　不同元素对应不同的荧光信号，通过测量和分析这些荧光信号的能量和强度，可以准确判断样品中所含有的元素。

　　XRF分析仪的主要构成部分包括X射线发生器、样品台、荧光探测器和数据处理系统。

　　X射线发生器负责产生入射X射线，样品台用于放置待测样品，荧光探测器则用于测量荧光发射信号，数据处理系统负责对测量结果进行分析和处理。